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Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 9 Secrétariat Stade ICS
Analyse chimique des surfaces — Microscopie par sonde à balayage — Mesurage du taux de dérive
90.93
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination de constantes normales en porte-à-faux de ressort
90.93
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
95.99
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
60.60
Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde à balayage - Normes sur la définition et l'étalonnage de la résolution spatiale des microscopes électriques à sonde à balayage (ESPMs) comme SSRM et SCM pour l'imagerie 2D-dopant et d'autres fins
90.93
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à balayage de sonde — Procédure pour la caractérisation in situ des sondes AFM utilisées pour mesurer la nanostructure
90.93
Titre manque
10.99
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for quantitative nanoscale potential measurement by Kelvin probe force microscopy
10.99
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde locale — Lignes directrices pour la détermination des modules d’élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique
60.60
Titre manque
20.99
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie à force atomique dilatées par la taille finie de la sonde
60.60
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde à balayage — Définition et étalonnage de la résolution latérale d'un microscope optique en champ proche
90.93

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