Norme internationale
ISO 6342:2003
Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur
Numéro de référence
ISO 6342:2003
Edition 2
2003-07
Norme internationale
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ISO 6342:2003
35521
Indisponible en français
Publiée (Edition 2, 2003)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2021. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 6342:2003

ISO 6342:2003
35521
Langue
Format
CHF 42
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Résumé

ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2003-07
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  •  : 2
  • ISO/TC 171
    37.080 
  • RSS mises à jour

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