Numéro de référence
ISO 7668:2010
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ISO 7668:2010
Anodisation de l'aluminium et de ses alliages — Mesurage des caractéristiques de réflectivité et de brillant spéculaires des couches anodiques à angle fixe de 20 degrés, 45 degrés, 60 degrés ou 85 degrés
Edition 2
2010-11
Annulée
Annulée (Edition 2, 2010)

Résumé

L'ISO 7668:2010 spécifie des méthodes de mesure de la réflectivité spéculaire et du brillant spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (Méthode A), 45° (Méthode B), 60° (Méthode C) et 85° (Méthode D), plus une autre méthode à 45° (Méthode E) à petit angle d'ouverture pour le mesurage de la réflectivité spéculaire.

Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs semblables.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 2010-11
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 2
    Nombre de pages
     : 14
  • Comité technique :
    ISO/TC 79/SC 2
    ICS :
    25.220.20 
  • RSS mises à jour

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