Résumé
This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.
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Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2024-02Stade: Norme internationale publiée [60.60]
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Edition: 2
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Comité technique :ISO/TC 202ICS :71.040.50
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 24173:2009
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