Résumé
ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.
Informations générales
-
État actuel: ProjetDate de publication: 2024-11Stade: Epreuve envoyée au secrétariat ou mise au vote du FDIS: 8 semaines [50.20]
-
Edition: 2
-
Comité technique :ISO/TC 206ICS :81.060.30
- RSS mises à jour
Cycle de vie
-
Précédemment
PubliéeISO 19606:2017
-
Actuellement
Vous avez une question?
Consulter notre Aide et assistance
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)