Projet de travail approuvé
ISO/AWI 25178-607
Spécification géométrique des produits (GPS) -— État de surface: Surfacique — Partie 607: Conception et caractéristiques des instruments sans contact (microscopie confocale)
Numéro de référence
ISO/AWI 25178-607
ISO/AWI 25178-607
Edition 2
© ISO 2024
Projet de travail approuvé
ISO/AWI 25178-607
85744
Résumé
Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage
Informations générales
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État actuel: ProjetStade: Nouveau projet enregistré au programme de travail du TC/SC [20.00]
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Edition: 2
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Comité technique :ISO/TC 213
- RSS mises à jour
Cycle de vie
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Précédemment
PubliéeISO 25178-607:2019
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