Ссылочный номер
ISO 17973:2002
© ISO 2024
ISO 17973:2002
Surface chemical analysis — Medium-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental analysis
Версия 1
2002-10
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2002)

Тезис

ISO 17973:2002 specifies a method for calibrating the kinetic energy scales of Auger electron spectrometers with an uncertainty of 3 eV, for general analytical use in identifying elements at surfaces. In addition, it specifies a method for establishing a calibration schedule. It is applicable to instruments used in either direct or differential mode, where the resolution is less than or equal to 0,5 % and the modulation amplitude for the differential mode, if used, is 2 eV peak-to-peak. It is applicable to those spectrometers equipped with an inert gas ion gun or other method for sample cleaning and with an electron gun capable of operating at 4 keV or higher beam energy.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2002-10
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 17973:2002