Reference number
ISO 11938:2012
International Standard
ISO 11938:2012
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
Edition 1
2012-03
Preview
ISO 11938:2012
51059
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2012)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2022. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 11938:2012

ISO 11938:2012
51059
Язык
Формат
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using

wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally

across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is

assessed. It describes five types of data processing: the raw X‑ray intensity data method, the k‑value method,

the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2012-03
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  •  : 1
  • ISO/TC 202/SC 2
    71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ