Тезис
This International Standard defines the most important quantities that characterize an energy-dispersive X-ray spectrometer consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal-processing unit as the essential parts. This International Standard is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid-state ionization. This International Standard specifies minimum requirements and how relevant instrumental performance parameters are to be checked for such spectrometers attached to a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA). The procedure used for the actual analysis is outlined in ISO 22309[2] and ASTM E1508[3] and is outside the scope of this International Standard.
Общая информация
-
Текущий статус: ОтозваноДата публикации: 2012-08Этап: Отмена международного стандарта [95.99]
-
Версия: 2
-
Технический комитет :ISO/TC 202ICS :71.040.99
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 15632:2002
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Пересмотрен
ОпубликованоISO 15632:2021