Reference number
ISO 19830:2015
© ISO 2024
International Standard
ISO 19830:2015
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
Edition 1
2015-11
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2015)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2021. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 19830:2015

Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 19830:2015 Standard is to define how peak fitting and the results of peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy shall be reported. It is applicable to the fitting of a single spectrum or to a set of related spectra, as might be acquired, for example, during a depth profile measurement. This International Standard provides a list of those parameters which shall be reported if either reproducible peak fitting is to be achieved or a number of spectra are to be fitted and the fitted spectra compared. This International Standard does not provide instructions for peak fitting nor the procedures which should be adopted.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2015-11
    Этап
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 19830:2015