ISO 3274:1996
p
ISO 3274:1996
1916
недоступно на русском языке

Тезис  Предпросмотр

Describes profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness. Specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation. Replaces the first edition of ISO 3274:1975 and ISO 1880:1979.


Общая информация 

  •  :  Published
     : 1996-12
  •  : 2
  •  : ISO/TC 213 Dimensional and geometrical product specifications and verification
  •  :
    17.040.30 Measuring instruments

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 88 PDF
std 2 88 Бумажный
  • CHF88

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.